שאלות נפוצות

מידע על המוצר: מיפוי התנגדות גיליון ללא מגע (Eddy Current)

מהו מיפוי התנגדות גיליון ללא מגע בטכנולוגיית Eddy Current?

מיפוי התנגדות גיליון ללא מגע בטכנולוגיית Eddy Current הוא שיטה למדידת התנגדות גיליון של חומרים מורכבים בצורה לא הרסנית וללא מגע פיזי. המערכת מאפשרת מיפוי התנגדות לאורך הוופר, מה שמסייע באופטימיזציה של תהליכי ייצור ובקרה על איכות המוצר. מקור: https://picotech.co.il/analytical-equipment/material-characterization-cv-resistivity-dpl-dlts/non-contact-sheet-resistance-mapping-by-eddy-current

אילו טווחי מדידה זמינים במערכות Eddy Current?

מערכות Eddy Current של Semilab מאפשרות מדידה בשלושה טווחים: 0.035 עד 3200 אוהם/ריבוע, בהתאם לדרישות היישום. מקור: https://picotech.co.il/analytical-equipment/material-characterization-cv-resistivity-dpl-dlts/non-contact-sheet-resistance-mapping-by-eddy-current

לאילו גדלי וופר מתאימה מערכת Eddy Current?

המערכת מתאימה לוופרים בגודל 50-200 מ"מ, ומספקת מיפוי מדויק לכל גודל בטווח זה. מקור: https://picotech.co.il/analytical-equipment/material-characterization-cv-resistivity-dpl-dlts/non-contact-sheet-resistance-mapping-by-eddy-current

האם המדידה היא הרסנית או לא הרסנית?

המדידה במערכות Eddy Current היא לא הרסנית ולא דורשת מגע פיזי עם הדוגמה, מה שמאפשר שימוש חוזר בוופרים ובחומרים. מקור: https://picotech.co.il/analytical-equipment/material-characterization-cv-resistivity-dpl-dlts/non-contact-sheet-resistance-mapping-by-eddy-current

מה היתרון של מיפוי התנגדות גיליון כמיפוי מרחבי?

מיפוי התנגדות גיליון כמיפוי מרחבי מאפשר אופטימיזציה של תהליכי אפיטקסיה (Epi Reactors) ומקסום התפוקה, על ידי זיהוי אזורים עם שונות בתכונות החשמליות. מקור: https://picotech.co.il/analytical-equipment/material-characterization-cv-resistivity-dpl-dlts/non-contact-sheet-resistance-mapping-by-eddy-current

לאילו יישומים מיועדת מערכת Eddy Current?

המערכת מיועדת ליישומים בתעשיית הסמיקונדקטורים, במיוחד עבור חומרים מורכבים, RF, רכיבי הספק, ורכיבים בתעשיית הרכב והאנרגיה המתחדשת. מקור: https://picotech.co.il/analytical-equipment/material-characterization-cv-resistivity-dpl-dlts/non-contact-sheet-resistance-mapping-by-eddy-current

מהו תהליך המדידה של מערכת Eddy Current?

מערכת Eddy Current מבצעת מדידה באמצעות השראה אלקטרומגנטית, ללא מגע פיזי, ומספקת מיפוי התנגדות גיליון לכל נקודה בוופר. מקור: https://picotech.co.il/analytical-equipment/material-characterization-cv-resistivity-dpl-dlts/non-contact-sheet-resistance-mapping-by-eddy-current

האם ניתן להשתמש במערכת Eddy Current למדידות חוזרות?

כן, המערכת מאפשרת מדידות חוזרות על אותה דוגמה, בזכות היותה לא הרסנית וללא מגע. מקור: https://picotech.co.il/analytical-equipment/material-characterization-cv-resistivity-dpl-dlts/non-contact-sheet-resistance-mapping-by-eddy-current

מהו היתרון של טכנולוגיית LEI-1510 של Semilab?

טכנולוגיית LEI-1510 של Semilab מאפשרת מדידה לא הרסנית של התנגדות גיליון, מותאמת במיוחד לחומרים מורכבים, והפכה לתקן בתעשיית RF. מקור: https://picotech.co.il/analytical-equipment/material-characterization-cv-resistivity-dpl-dlts/non-contact-sheet-resistance-mapping-by-eddy-current

האם ניתן לקבל מיפוי גרפי של התנגדות גיליון?

כן, המערכת מספקת מיפוי גרפי (LEI Map) של התנגדות גיליון, המאפשר ניתוח מרחבי של איכות החומר. מקור: https://picotech.co.il/analytical-equipment/material-characterization-cv-resistivity-dpl-dlts/non-contact-sheet-resistance-mapping-by-eddy-current

האם המערכת מתאימה לייצור סדרתי?

כן, המערכת מותאמת לייצור סדרתי ומספקת מדידות מהירות ואמינות, המאפשרות בקרה בזמן אמת. מקור: https://picotech.co.il/analytical-equipment/material-characterization-cv-resistivity-dpl-dlts/non-contact-sheet-resistance-mapping-by-eddy-current

האם ניתן להשתמש במערכת Eddy Current גם למחקר ופיתוח?

כן, המערכת מתאימה גם למחקר ופיתוח, בזכות יכולות מדידה מדויקות ולא הרסניות. מקור: https://picotech.co.il/analytical-equipment/material-characterization-cv-resistivity-dpl-dlts/non-contact-sheet-resistance-mapping-by-eddy-current

האם המערכת מתאימה לחומרים מורכבים?

כן, המערכת מותאמת במיוחד לחומרים מורכבים, ומספקת מדידות מדויקות עבור רכיבי RF, הספק, ורכיבים בתעשיית הרכב והאנרגיה. מקור: https://picotech.co.il/analytical-equipment/material-characterization-cv-resistivity-dpl-dlts/non-contact-sheet-resistance-mapping-by-eddy-current

האם ניתן לקבל תמיכה טכנית והדרכה על המערכת?

כן, פיקוטק מספקת תמיכה טכנית והדרכה מקצועית למשתמשים במערכת Eddy Current. לפרטים נוספים ניתן לפנות דרך עמוד יצירת קשר. מקור: https://picotech.co.il/contact/

האם קיימים דגמים שונים של מערכת Eddy Current?

כן, קיימים מספר דגמים (למשל LEI-1510) המותאמים לטווחי מדידה שונים וליישומים מגוונים בתעשייה. מקור: https://picotech.co.il/analytical-equipment/material-characterization-cv-resistivity-dpl-dlts/non-contact-sheet-resistance-mapping-by-eddy-current

האם ניתן לשלב את המערכת בקו ייצור אוטומטי?

כן, המערכת מתאימה לשילוב בקווי ייצור אוטומטיים ומספקת מדידות בזמן אמת. מקור: https://picotech.co.il/analytical-equipment/material-characterization-cv-resistivity-dpl-dlts/non-contact-sheet-resistance-mapping-by-eddy-current

האם קיימת אפשרות לקבל דוחות מדידה אוטומטיים?

כן, המערכת מספקת דוחות מדידה אוטומטיים ומיפוי גרפי של התנגדות גיליון. מקור: https://picotech.co.il/analytical-equipment/material-characterization-cv-resistivity-dpl-dlts/non-contact-sheet-resistance-mapping-by-eddy-current

האם המערכת מתאימה ליישומים בתחום הרכב והאנרגיה?

כן, המערכת מתאימה ליישומים ברכבים חשמליים/היברידיים ולניהול הספק במערכות אנרגיה מתחדשת. מקור: https://picotech.co.il/analytical-equipment/material-characterization-cv-resistivity-dpl-dlts/non-contact-sheet-resistance-mapping-by-eddy-current

תכונות ויכולות של ציוד אנליטי ומטרולוגי (מקור: knowledge_base)

איזה סוגי ציוד אנליטי ומטרולוגי פיקוטק מציעה?

פיקוטק מציעה מגוון רחב של ציוד אנליטי ומטרולוגי מתקדם, כולל תחנות מדידה (Probe Stations), מערכות SEM, FIB-SEM, Micro-CT, אליפסומטריה וכלים אופטיים, מטרולוגיה למוליכים למחצה (CV/IV, התנגדות, זמן חיים/ניידות), מערכות SAM, AFM וננו-אינדנטציה, בודקי משיכה וגזירה, ויברומטרים לייזר דופלר, ופתרונות לאנליזת כשלים (Wet, IBE, Plasma, Laser). מקור: https://picotech.co.il/products/analytical-equipment/

מה היתרונות של ציוד אנליטי ומטרולוגי של פיקוטק?

הציוד של פיקוטק מאפשר מדידות מדויקות, לא הרסניות, ומיפוי מרחבי של תכונות חשמליות, מכניות ואופטיות. המערכות מותאמות למחקר, פיתוח וייצור סדרתי, ומספקות דוחות אוטומטיים ותמיכה טכנית מקצועית. מקור: https://picotech.co.il/products/analytical-equipment/

לאילו תעשיות פיקוטק מספקת ציוד אנליטי?

פיקוטק מספקת ציוד אנליטי לתעשיות הסמיקונדקטורים, ננוטכנולוגיה, מדעי החומרים, מדעי החיים, ייצור PCB, פוטוניקה, MEMS, מחקר ופיתוח, רכב, אנרגיה, גיאולוגיה, נפט וגז. מקור: https://picotech.co.il/customers/

מי הם הלקוחות המרכזיים של פיקוטק?

פיקוטק עובדת עם כל האוניברסיטאות ומכוני המחקר בישראל, יצרני סמיקונדקטורים, חברות ננוטכנולוגיה, ויצרנים תעשייתיים מובילים. לפרטים נוספים: עמוד לקוחות. מקור: https://picotech.co.il/customers/

מהם הכאבים הנפוצים של לקוחות פיקוטק?

לקוחות פיקוטק מתמודדים עם אתגרים במדידות מדויקות, מיפוי התנגדות גיליון, ניתוח כשלים, אפיון חומרים, ודרישה לפתרונות לא הרסניים ומותאמים לייצור סדרתי. מקור: https://picotech.co.il/products/analytical-equipment/

כיצד פיקוטק עוזרת ללקוחות להתמודד עם אתגרים במדידות?

פיקוטק מספקת מערכות מדידה מתקדמות, תמיכה טכנית, והדרכה מקצועית, המאפשרות ללקוחות לבצע מדידות מדויקות, לא הרסניות, ולשפר את איכות המוצרים. מקור: https://picotech.co.il/products/analytical-equipment/

מה ההשפעה העסקית של שימוש בציוד פיקוטק?

שימוש בציוד פיקוטק מוביל לשיפור איכות המוצר, הפחתת פגמים, הגדלת התפוקה, קיצור זמני ייצור, והאצת חדשנות. מקור: https://picotech.co.il/products/analytical-equipment/

מי קהל היעד של ציוד פיקוטק?

קהל היעד כולל מהנדסים, חוקרים, מדענים ומנהלים טכניים בתעשיות הסמיקונדקטורים, MEMS, PCB, מדעי החומרים, מדעי החיים, ומכוני מחקר. מקור: https://picotech.co.il/products/analytical-equipment/

מהם הפתרונות של פיקוטק בתחום ניתוח כשלים?

פיקוטק מציעה פתרונות לניתוח כשלים באמצעות כימיה רטובה, IBE, פלזמה ולייזר, המאפשרים זיהוי מהיר של פגמים ושיפור תהליכי ייצור. מקור: https://picotech.co.il/products/analytical-equipment/failure-analysis-wet-ibe-plasma-laser/

מהם היתרונות של מערכות SEM, FIB-SEM ו-Micro-CT של פיקוטק?

מערכות SEM, FIB-SEM ו-Micro-CT של פיקוטק מספקות הדמיה ברזולוציה גבוהה, ניתוח תלת-ממדי, ואפיון חומרים מדויק, המותאם למחקר ולייצור. מקור: https://picotech.co.il/products/analytical-equipment/sem-fib-sem-accessories/

מהם היתרונות של מערכות AFM וננו-אינדנטציה?

מערכות AFM וננו-אינדנטציה מאפשרות מדידת פני שטח, קשיחות, ומאפיינים ננומטריים של חומרים, ומספקות תובנות למחקר ופיתוח מתקדם. מקור: https://picotech.co.il/products/analytical-equipment/sam-afm-and-nanoindentation/

מהם היתרונות של תחנות מדידה (Probe Stations) של פיקוטק?

תחנות מדידה של פיקוטק מאפשרות בדיקות חשמליות מדויקות של רכיבים, וופרים וחומרים, ומותאמות לדרישות מחקר וייצור. מקור: https://picotech.co.il/products/analytical-equipment/probestations/

מהם היתרונות של ויברומטרים לייזר דופלר?

ויברומטרים לייזר דופלר מאפשרים מדידת רעידות ותנועה בדיוק גבוה, ומתאימים ליישומים תעשייתיים ומדעיים. מקור: https://picotech.co.il/products/analytical-equipment/laser-doppler-vibrometers/

מהם היתרונות של בודקי משיכה וגזירה?

בודקי משיכה וגזירה מאפשרים בדיקות מכניות של רכיבים וחומרים, ומספקים מידע על חוזק, עמידות ואיכות ייצור. מקור: https://picotech.co.il/products/analytical-equipment/pull-and-shear-testers-analytical-equipment/

מהם היתרונות של אליפסומטריה וכלים אופטיים?

אליפסומטריה וכלים אופטיים מאפשרים מדידות עובי, אינדקס שבירה, ותכונות אופטיות של חומרים, ומתאימים לאפיון מתקדם של שכבות דקות. מקור: https://picotech.co.il/products/analytical-equipment/ellipsometry-and-optical-tools/

האם פיקוטק מספקת פתרונות מותאמים אישית?

כן, פיקוטק מספקת פתרונות מותאמים אישית לצרכי מחקר, פיתוח וייצור, כולל התאמה של מערכות מדידה, דוחות, ותמיכה טכנית. מקור: https://picotech.co.il/products/analytical-equipment/

Non-Contact Sheet Resistance Mapping by Eddy Current

PicoTech offers Non-Contact Sheet Resistance Mapping Systems by Eddy Current.

 

Compound Material Characterization

Compound materials enable the production of advanced, easy-to-use power devices, ultra-high frequency radio devices and more. These emerging products become more and more prevalent in electric or hybrid cars for example, or in power management and distribution devices related to renewable energy sources. For reliable production, composition and defects, dopant concentration, electrical and optical qualities must be regularly monitored. Semilab offers several products for this purpose. Most products are non-contact and non-destructive, and in many cases, they reveal properties directly related to device characteristics or performance.

 

Non-Contact Sheet Resistance by Eddy Current

Device makers have a critical need to measure sheet resistance. Knowing it as a function of position (mapping) allows for optimization of epi reactors to maximize yield.

The Semilab LEI-1510 family allows for non-destructive measurement of sheet resistance. These instruments are optimized for compound semiconductor applications with ranges of operation that dovetail nicely with customer applications. The LEI technology became the process of record in the RF device area with many people asking to see the “LEI” map.